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涂鍍層測厚儀的分類與工作原理

更新時間:2014-04-08      點擊次數(shù):1707

涂鍍層測厚儀的分類與工作原理

涂鍍層測厚儀根據測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼、鐵、銀和鎳。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高.  

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高,測量起來較其他幾種麻煩。  

5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10RMB以上),適用于一些特殊場合,國內目前使用zui為普遍的是第12兩種方法。  

常規(guī)涂層測厚儀的原理:

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關國家和標準中稱為覆層(coating)。   覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要一環(huán),是產品達到優(yōu)等質量標準的*手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。   覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。 

X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。   隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。 

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。   

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